黄翰教授和我共同指导的博士生王海宁的工作“A Low-Cost Feature Interaction Fault Localization Approach for
 Software Product Lines”被ISSTA 2025录用。针对操作系统、数据库和编译器等软件产品线所面临的缺陷定位效率低的难题，我们采用反事实推理技术构造有效的搜索子空间，并以避免重复搜索为目标，提出了一种低代价的缺陷定位算法。实验结果表明，该算法在保证定位准确性的同时，较现有先进方法的定位效率提高了17倍，最高可达22倍。该工作的合作者包括华南理工大学的杨晓伟教授、普华基础软件有限公司的曹捷博士。未来，我们将与企业方一道，继续围绕基础软件的缺陷定位和修复展开研究，预计将产出更多有实用价值的成果。

Haining Wang (South China University of Technology) 

Yi Xiang (South China University of Technology) 

Han Huang (South China University of Technology)

Jie Cao (Puhua Basic Software Co.)

Kaichen Chen (South China University of Technology)

Xiaowei Yang (South China University of Technology)